| English | Deutsch |
|---|---|
| usage | Sprachgebrauch |
| …1 per cent and 6,5 per cent respectively and is based on the Double Sampling Plan for Normal Inspection in IEC Publication 60410: Sampling Plans and Procedures for Inspection by Attributes. | …5 % bewertet werden; bei der Erstellung dieser Übersicht wurde der Doppelstichprobenprüfplan für die normale Prüfung zu Grunde gelegt nach der IEC-Publikation 60410: Stichprobenpläne und -verfahren für Attributprüfungen. |
| …1 per cent and 6,5 per cent respectively and is based on the Double Sampling Plan for Normal Inspection in IEC Publication 60410: Sampling Plans and Procedures for Inspection by Attributes. | …von 1 % bzw. 6,5 % bewertet werden; bei der Erstellung dieser Übersicht wurde der Doppelprobenahmeplan für die normale Überprüfung nach der IEC-Publikation 60410 zugrunde gelegt: Probenahmepläne und Verfahren für Eigenschaftsüberprüfungen. |
| Deutsch | English |
|---|---|
| Sprachgebrauch | usage |
| …bei der Erstellung dieser Übersicht wurde der Doppelstichprobenprüfplan für die normale Prüfung zu Grunde gelegt nach der IEC-Publikation 60410: Stichprobenpläne und -verfahren für Attributprüfungen. | …6,5 per cent respectively and is based on the Double Sampling Plan for Normal Inspection in IEC Publication 60410: Sampling Plans and Procedures for Inspection by Attributes. |
| …von 1 % bzw. 6,5 % bewertet werden; bei der Erstellung dieser Übersicht wurde der Doppelprobenahmeplan für die normale Überprüfung nach der IEC-Publikation 60410 zugrunde gelegt: Probenahmepläne und Verfahren für Eigenschaftsüberprüfungen. | …1 per cent and 6,5 per cent respectively and is based on the Double Sampling Plan for Normal Inspection in IEC Publication 60410: Sampling Plans and Procedures for Inspection by Attributes. |