| English | Deutsch |
|---|---|
| usage | Sprachgebrauch |
| For apparatus of subheading 90314100 or for optical instruments and appliances for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers of subheading 90314990 | für Instrumente, Apparate und Geräte der Unterposition 90314100 oder für optische Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen von Oberflächenpartikelverunreinigungen von Halbleiterscheiben (wafers) der Unterposition 90314990 |
| Deutsch | English |
|---|---|
| Sprachgebrauch | usage |
| für Instrumente, Apparate und Geräte der Unterposition 90314100 oder für optische Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen von Oberflächenpartikelverunreinigungen von Halbleiterscheiben (wafers) der Unterposition 90314990 | For apparatus of subheading 90314100 or for optical instruments and appliances for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers of subheading 90314990 |